|
|||||||||
|
|||||||||
|
|
Материаловедение и материалы электронных средств
Учебное пособие в целом предназначено для решения следующих задач: для самостоятельного
изучения дисциплины "Материаловедение и материалы электронных средств" и близких
по содержанию дисциплин университетских учебных планов; для использования в качестве
справочного пособия по материалам, используемым в радиоэлектронных средствах.
Исследование фотостимулированных превращений в пленках халькогенидных стеклообразных
полупроводников
Описание лабораторной работы по курсу "Приборы на некристаллических полупроводниках".
Цель работы: ознакомление с явлением фотостимулированных изменений оптических свойств пленок халькогенидных стеклообразных полупроводников при их облучении интенсивным светом (с энергией квантов, превышающей ширину запрещенной зоны этих материалов), а также в экспериментальном исследовании циклов «запись-стирание» в свеженапыленных и отожженных образцах
Определение Параметров вакуумной установки и получение тонких пленок ионно-плазменными
методами
Лабораторная работа по курсу "Физика и технология аморфных полупроводников".
Цель работы: ознакомление с элементами двухступенчатой системы откачки вакуумных установок, принципом действия и определение их основных рабочих параметров, а также с технологией получения тонких пленок высокочастотным ионно–плазменным распылением и магнетронным распылением в постоянном электромагнитном поле.
Лабораторная работа по курсу "Физика и технология аморфных полупроводников".Цель работы состоит в ознакомлении с методом дифференциально–термического анализа и его использованием для входного контроля параметров некристаллических полупроводников при производстве приборов.
Раздаточный материал к лекционному курсу "Физика и технология некристаллических полупроводников"
Раздаточный материал содержит 13 страниц иллюстративного и справочного материала по курсу "Физика и технология некристаллических полупроводников"
Из сборника лабораторных работ по курсу "Физика и технология аморфных полупроводников"
Цель работы - практическое ознакомление студентов с одним из широко используемых в настоящее время экспериментальных методов исследований спектров плотности состояний в щели подвижности неупорядоченных полупроводниковых материалов, методикой получения исходных экспериментальных данных, применения персональных компьютеров для обработки результатов физического эксперимента и анализа полученных результатов.
Определение параметров ближнего порядка в расположении атомов аморфных веществ по
данным электронографических исследований
Методическое пособие по курсу «Физика и технология некристаллических полупроводников ». Описана методика обработки экспериментальных данных микродифракции электронов в аморфных веществах и отыскания параметров ближнего порядка в расположении атомов данных веществ .
Приборы на некристаллических полупроводниках
Представлены описания лабораторных работ, проводимых на кафедре ФЭМАЭК МЭИ и графические материалы к лекционным курсам "физика и технология некристаллических полупроводников" и "приборы на некристаллических полупроводниках".
Тонкие пленки и субмикронная технология.Рабочая программа
Рабочая программа курса "Тонкие пленки и субмикронная технология". Понятия о тонких
пленках, низкоразмерных структурах и субмикронной технологии. Значение тонкопленочных
технологических процессов для развития микроэлектроники.
Электронный учебник по электротехническим материалам
Электронный учебник включает в себя следующие разделы: диэлектрические материалы;
электропроводность диэлектриков; поляризация диэлектриков; потери в диэлектриках;
электрическая прочность диэлектриков; магнитные материалы; проводниковые материалы;
полупроводниковые материалы.
Совместно с ним используется подсистема проверки знаний, включающая в себя около
500 вопросов и логических задач. В учебном процессе используется локальная версия
подсистемы, одновременно разрабатывается Internet-версия подсистемы, можно познакомиться
с ее демонстрационной версией, отличающейся от рабочей меньшим числом включенных
в нее вопросов, а также детерминированным характером их предъявления
|
|
|
Copyright © 2003 «Инженерное образование» E-mail: techno@bmstu.ru | тел.: +7 (095) 263-68-63 |
|